X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。得益于同步辐射光源自身具有光子高通量以及更高的准直性等优点，往往会得到更多、更强的衍射信号，这对后续的数据分析提供了更多的可能性。

原位XRD图谱

原位XRD相对于非原位XRD的技术优势：

1、原位XRD在材料反应过程中得到实时的结构变化信息，可以深入的认识材料在充放电过程中发生的反应，对如何改进材料也具有很大的指导意义；非原位XRD的测试往往不能很好的还原真实的状况，另外，如果所测试的材料状态对空气敏感，那么，必须将材料放在隔绝空气的装置中测试才能反应材料的真实状态。

2、原位XRD的测试可以在短时间内得到大量可对比信息，由于原位测试的整个过程是对同一个材料的同一个位置的测试，因此得到的信息（无论是晶胞参数还是峰强度，还是其他的参数）都是具有相对可比性的。

而非原位XRD得到的信息相对可比性较差且对测试过程中的操作要求较高，比如，极片拆卸洗涤后如果极片处于褶皱状态，材料测试的会产生高低变化，测到的XRD的峰会发生偏移，相应的精修得到的晶胞参数也会有所变化；而不同极片活性材料质量和分布必然存在不同，这也必然导致不同充放电状态下的峰强可比性是比较差的。

总结：

原位XRD作为一种XRD的衍生测试手段，可以很好的解决非原位XRD测试过程中的诸多问题，目前已在锂离子电极材料测试中得到了很好的运用，能够实时检测电极材料。

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