ICT半导体集成电路测试有限公司取得次级带电粒子成像系统专利

金融界2025年4月25日消息,国家知识产权局信息显示,ICT半导体集成电路测试有限公司取得一项名为“次级带电粒子成像系统”的专利,授权公告号CN114730683B,申请日期为2020年11月。

本文源自金融界

展开阅读全文

更新时间:2025-04-28

标签:次级   粒子   国家知识产权局   集成电路   半导体   专利   金融界   本文   日期   消息   测试   系统   科技   有限公司

1 2 3 4 5

上滑加载更多 ↓
推荐阅读:
友情链接:
更多:

本站资料均由网友自行发布提供,仅用于学习交流。如有版权问题,请与我联系,QQ:4156828  

© CopyRight 2020- All Rights Reserved. Powered By bs178.com 闽ICP备11008920号
闽公网安备35020302034844号

Top