“方崇智论文激励计划”评选结果揭晓，安凯微电子共促产学研融合

2025年8月23日，第十四届全国技术过程故障诊断与安全性学术会议在新疆乌鲁木齐举行，安凯微电子赞助的“方崇智论文激励计划（Fang Chong-Zhi Best Paper Award）”评选结果揭晓。安凯微电子总经办主任林绮绮女士向获奖论文作者颁奖。

安凯微坚信，技术创新离不开学术研究的深厚积累和优秀人才的不断涌现。公司积极支持高水平学术交流与人才培养，与学界、业界携手，产学研结合，加速科技成果转化“最后一公里”进程。

全国技术过程故障诊断与安全性学术会议是由中国自动化学会技术过程的故障诊断与安全性专业委员会主办的学术会议，每两年举办一次，旨在为相关领域的专家学者和工程技术人员提供交流平台。中国自动化学会技术过程的故障诊断与安全性专业委员会还设立了“方崇智论文激励计划（Fang Chong-Zhi Best Paper Award）”，于2019年7月评选出首届优秀论文。