胜高股份取得可识别滑移位错缺陷和失配位错缺陷的外延晶片检查方法专利

金融界2025年8月23日消息,国家知识产权局信息显示,胜高股份有限公司取得一项名为“外延晶片的缺陷检查方法”的专利,授权公告号CN114624251B,申请日期为2021年12月。

本文源自金融界

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更新时间:2025-08-25

标签:科技   失配   缺陷   晶片   外延   专利   股份   方法   金融界   国家知识产权局   股份有限公司   本文   日期   消息

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