广西三环高科等取得消除银基表面增强拉曼基片杂峰及痕量检测方法专利

金融界2025年7月26日消息,国家知识产权局信息显示,清华大学;广西三环高科拉曼芯片技术有限公司取得一项名为“银基表面增强拉曼基片杂峰的消除方法及痕量检测方法”的专利,授权公告号CN116577314B,申请日期为2023年04月。

本文源自金融界

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更新时间:2025-07-28

标签:科技   痕量   广西   表面   专利   高科   金融界   国家知识产权局   清华大学   技术有限公司   芯片   本文

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